[发明专利]数据的分析/校正/方法及系统、存储介质、磁性编码器

权利要求书

1.一种数据的分析方法，其特征在于，应用于一磁性编码器；所述数据的分析方法包括：

采集所述磁性编码器生成的反馈数据信号；所述反馈数据信号用于反馈一电子设备的运行状况；

计算所述反馈数据信号之间的差异；所述反馈数据信号之间的差异包括增益差异和/或偏置差异。

2.根据权利要求1所述的数据的分析方法，其特征在于，所述反馈数据信号为所述磁性编码器的各所述磁敏元件根据其对应的磁环转动后产生的电压信号序列。

3.根据权利要求2所述的数据的分析方法，其特征在于，所述反馈数据信号之间的偏置差异的计算步骤包括：

分别累加整数周期的正弦电压信号和余弦电压信号的电压值，以获取正弦电压累加和以及余弦电压累加和；

所述正弦电压累加和以及余弦电压累加和分别除以累加次数，以获取正弦电压信号的平均电压信号和余弦电压信号的平均电压信号；

其中，正弦电压信号的平均电压信号为所述磁性编码器的正弦偏置差异，余弦电压信号的平均电压信号为所述磁性编码器的余弦偏置差异。

4.根据权利要求1所述的数据的分析方法，其特征在于，所述反馈数据信号之间的增益差异的计算步骤包括：

以每个周期内对应的最大正弦电压信号的采样序号为中心，取指定采样序号范围内的电压信号数据为正弦电压信号的拟合数据，及以每个周期内对应的最大余弦电压信号的采样序号为中心，取指定采样序号范围内的电压信号数据为余弦电压信号的拟合数据；

通过拟合算法分别计算出每个周期内正弦电压信号的最大拟合正弦电压信号以及每个周期内余弦电压信号的最大拟合余弦电压信号；

分别将计算出的多个周期下的最大拟合正弦电压信号以及最大拟合余弦电压信号相加后进行平均，以获取所述磁性编码器的增益差异。

5.根据权利要求4所述的数据的分析方法，其特征在于，计算每个周期内正弦电压信号的最大拟合正弦电压信号或计算每个周期内余弦电压信号的最大拟合余弦电压信号的步骤包括：

以正弦电压信号或余弦电压信号的拟合数据的采样序号为变量x，拟合一条关于正弦电压信号或余弦电压信号相关的二次拟合曲线；

对所述二次拟合曲线求一阶导数，查找一阶导数为0时，对应的所述正弦电压信号的采样序号或余弦电压信号的采样序号；

将所述正弦电压信号的采样序号或余弦电压信号的采样序号分别代入关于正弦电压信号或余弦电压信号相关的二次拟合曲线，计算出每个周期内正弦电压信号于指定采样序号范围内的最大拟合正弦电压信号或每个周期内余弦电压信号于指定采样序号范围内的最大拟合余弦电压信号。

6.一种数据的校正方法，其特征在于，应用于一磁性编码器；所述数据的校正方法包括：

获取磁性编码器的反馈数据信号之间的差异；所述反馈数据信号之间的差异包括增益差异和/或偏置差异；

根据所述磁性编码器的反馈数据信号之间的差异，校正所述磁性编码器的属性参数，以控制所述电子设备的运行。

7.一种数据的分析系统，其特征在于，应用于一磁性编码器；所述数据的分析系统包括：

采集模块，用于采集所述磁性编码器生成的反馈数据信号；所述反馈数据信号用于反馈一电子设备的运行状况；

计算模块，用于计算所述反馈数据信号之间的差异；所述反馈数据信号之间的差异包括增益差异和/或偏置差异。

8.一种数据的校正系统，其特征在于，应用于一磁性编码器；所述数据的校正系统包括：

数据获取模块，用于获取所述磁性编码器的反馈数据信号之间的差异；所述反馈数据信号之间的差异包括增益差异和/或偏置差异；

校正模块，用于根据所述磁性编码器的反馈数据信号之间的差异，校正与所述磁性编码器连接的电机的属性参数，以控制所述电子设备的运行。

9.一种存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现权利要求1至5中任一项所述数据的分析方法和/或实现权利要求6所述数据的校正方法。

10.一种磁性编码器，其特征在于，包括：处理器及存储器；

所述存储器用于存储计算机程序，所述处理器用于执行所述存储器存储的计算机程序，以使所述磁性编码器执行如权利要求1至5中任一项所述数据的分析方法或实现权利要求6所述数据的校正方法。