[发明专利]数据的分析/校正/方法及系统、存储介质、磁性编码器

说明书

本发明提供一种数据的分析/校正/方法及系统、存储介质、磁性编码器，所述数据的分析方法包括：采集所述磁性编码器生成的反馈数据信号；所述反馈数据信号用于反馈一电子设备的运行状况；计算所述反馈数据信号之间的差异；所述反馈数据信号之间的差异包括增益差异和/或偏置差异。本发明所述数据的分析方法/校正方法/系统、存储介质及磁性编码器可以实现增益的修正及增益的准确度，从而提高编码器的解码精度，实现电机旋转速度、电机转子位置的精确测量。

技术领域

本发明属于编码器技术领域，涉及一种校正方法和系统，特别是涉及一种数据的分析/校正/方法/系统、存储介质、磁性编码器。

背景技术

为了实现电机旋转速度、电机转子位置的精确控制，一般使用编码器作为反馈元件，测量电机速度、转子位置。电机驱动器根据编码的反馈的位置信息，调节输出电压，实现电机按照设定速度、位置进行运行。

霍尔元件将磁环周围的磁场转化为电压信号，传输给MCU中的ADC模块，将电压信号数字化，通过MCU内部的软件，实现编码器的位置解算，将解算结果，传递到输出模块供给上位设备(如电机控制器)读取。配置模块用于编码器信息存储，如生产中编码器ID编码，增益的校正数据、偏置数据等。

对于磁性编码器解码器算法，由于磁环充磁性能、霍尔元件特性、焊接位置等因素影响，在同一个磁环的作用下，每个霍尔元件输出电压存在差异，直接影响编码器性能。

因此，如何提供一种数据的分析/校正/方法/系统、存储介质及磁性编码器，以解决现有技术无法精准地实现增益修正，导致编码器性能直接受影响等缺陷，实已成为本领域技术人员亟待解决的技术问题

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种数据的分析/校正/方法及系统、存储介质、磁性编码器，用于解决现有技术无法精准地实现增益修正，导致编码器性能直接受影响的问题。

为实现上述目的及其他相关目的，本发明一方面提供一种数据的分析方法，应用于一磁性编码器；所述数据的分析方法包括：采集所述磁性编码器生成的反馈数据信号；所述反馈数据信号用于反馈一电子设备的运行状况；计算所述反馈数据信号之间的差异；所述反馈数据信号之间的差异包括增益差异和/或偏置差异。

于本发明的一实施例中，所述反馈数据信号为所述磁性编码器的各所述磁敏元件根据其对应的磁环转动后产生的电压信号序列。

于本发明的一实施例中，所述反馈数据信号之间的偏置差异的计算步骤包括：分别累加整数周期的正弦电压信号和余弦电压信号的电压值，以获取正弦电压累加和以及余弦电压累加和；所述正弦电压累加和以及余弦电压累加和分别除以累加次数，以获取正弦电压信号的平均电压信号和余弦电压信号的平均电压信号；其中，正弦电压信号的平均电压信号为所述磁性编码器的正弦偏置差异，余弦电压信号的平均电压信号为所述磁性编码器的余弦偏置差异。

于本发明的一实施例中，所述反馈数据信号之间的增益差异的计算步骤包括：以每个周期内对应的最大正弦电压信号的采样序号为中心，取指定采样序号范围内的电压信号数据为正弦电压信号的拟合数据及以每个周期内对应的最大余弦电压信号的采样序号为中心，取指定采样序号范围内的电压信号数据为余弦电压信号的拟合数据；通过拟合算法分别计算出每个周期内正弦电压信号的最大拟合正弦电压信号以及每个周期内余弦电压信号的最大拟合余弦电压信号；分别将计算出的多个周期下的最大拟合正弦电压信号以及最大拟合余弦电压信号相加后进行平均，以获取所述磁性编码器的增益差异。