[发明专利]一种星敏感器抗杂散光性能验证与测试系统在审
| 申请号： | 202011387890.8 | 申请日： | 2020-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN112747768A | 公开（公告）日： | 2021-05-04 |
| 发明（设计）人： | 高文杰;杜伟峰;张惠;翟正一;谢廷安;叶宋杭;武斌 | 申请（专利权）人： | 上海航天控制技术研究所 |
| 主分类号： | G01C25/00 | 分类号： | G01C25/00 |
| 代理公司： | 上海元好知识产权代理有限公司 31323 | 代理人： | 包姝晴;张静洁 |
| 地址： | 201109 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种星敏感器抗杂散光性能验证与测试系统，包括：光学平台；太阳模拟器，其位于光学平台的一端，太阳模拟器用于发出准平行辐照光束；光束整形系统，其设置在靠近太阳模拟器的出口的位置处，光束整形系统用于对准平行辐照光束进行整形，得到与待测目标入光口尺寸相匹配的辐照光束；光学斩波器，其设置在靠近光束整形系统的出口位置处，光学斩波器用于对辐照光束进行调制并输出；机械运动装置，其设置在光学平台上，并靠近光学斩波器；待测目标，其设置在机械运动装置上，待测目标接受经调制的辐照光束照射，以评估待测目标的抗杂散光性能。本发明能够有效评定星敏感器的杂光抑制水平，为星敏感器的在轨应用提供测试与评估手段。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 敏感 器抗杂 散光 性能 验证 测试 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海航天控制技术研究所，未经上海航天控制技术研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011387890.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
