[发明专利]一种星敏感器抗杂散光性能验证与测试系统

权利要求书

1.一种星敏感器抗杂散光性能验证与测试系统，其特征在于，包括：

光学平台；

太阳模拟器，其位于所述光学平台的一端，所述太阳模拟器用于发出准平行辐照光束；

光束整形系统，其设置在靠近所述太阳模拟器的出口的位置处，所述光束整形系统用于对所述准平行辐照光束进行整形，得到与待测目标入光口尺寸相匹配的辐照光束；

光学斩波器，其设置在靠近所述光束整形系统的出口位置处，所述光学斩波器用于对所述辐照光束进行调制并输出；

机械运动装置，其设置在所述光学平台上，并靠近所述光学斩波器；

待测目标，其设置在所述机械运动装置上，所述待测目标接受经调制的所述辐照光束照射，以评估所述待测目标的抗杂散光性能。

2.如权利要求1所述的星敏感器抗杂散光性能验证与测试系统，其特征在于，当所述待测目标为星敏感器遮光罩，且对其进行消光比定量测试时，

还包括：积分球，所述星敏感器遮光罩和积分球设置在所述机械运动装置上；所述机械运动装置用于带动所述星敏感器遮光罩和所述积分球在水平面上做圆周运动，以实现所述星敏感器遮光罩在不同角度入射光照射下的所述星敏感器遮光罩的消光比测试。

3.如权利要求2所述的星敏感器抗杂散光性能验证与测试系统，其特征在于，所述积分球包括带有第一探测器的第一积分球和带有第二探测器的第二积分球；

所述星敏感器遮光罩的入光口接受经所述光学斩波器调制的所述辐照光束照射，其出光口与所述第二积分球连接；经所述星敏感器遮光罩出射的所述辐照光束入射到所述第二积分球；

所述第二探测器用于测量所述第二积分球接收的第一辐射通量；

移去所述星敏感器遮光罩，并移动所述第一积分球至所述星敏感器遮光罩入光口处的位置，所述第一探测器用于测量所述第一积分球接收的第二辐射通量，所述第一辐射通量和所述第二辐射通量之间的比值为测得的消光比。

4.如权利要求1所述的星敏感器抗杂散光性能验证与测试系统，其特征在于，当所述待测目标为星敏感器遮光罩，且对其进行出光口的能量分布定量测试时，还包括：微光相机，所述星敏感器遮光罩和微光相机设置在所述机械运动装置上；

经调制后的所述辐照光束入射到所述星敏感器遮光罩的入光口，

所述微光相机用于采集所述星敏感器遮光罩的出光口的能量分布图像数据；

控制所述机械运动装置在水平面上做圆周运动，则获取到经调制后的辐照光束以不同角度照射下的所述星敏感器遮光罩出光口处的能量分布图像数据；

基于所述微光相机的定标数据对所述能量分布图像数据进行处理，得到所述星敏感器遮光罩出光口的辐射能量分布。

5.如权利要求1所述的星敏感器抗杂散光性能验证与测试系统，其特征在于，当所述待测目标为星敏感器整机，且对所述星敏感器整机进行杂光定量测试时，所述星敏感器整机设置在所述机械运动装置上；

经调制后的所述辐照光束入射到装配在所述星敏感器整机的所述星敏感器遮光罩的入光口，然后依次经星敏感器整机中的遮光系统、光学系统、探测器和成像电子学进行处理形成灰度图像；

控制所述机械运动装置旋转带动所述星敏感器整机在水平面上做圆周运动，获取不同入射角度下的所述灰度图像，并将所有所述灰度图像存入数据库，根据所述灰度图像对所述星敏感器整机进行杂光抑制性能的综合分析的基础数据。

6.如权利要求1～5中任意一项所述的星敏感器抗杂散光性能验证与测试系统，其特征在于，所述太阳模拟器采用具有1KW功率的短弧氙灯作为光源，具备0.4～1.0个太阳常数可调的总辐射照度。

7.如权利要求6所述的星敏感器抗杂散光性能验证与测试系统，其特征在于，所述机械运动装置包括电控转台、电控位移台和具有滑轮支撑的水平平板，所述电控转台设置在所述光学平台的承载台面上，所述水平平板设置在所述电控转台上，所述电控位移台设置在所述水平平板上，所述电控转台用于带动所述水平平板绕所述电控转台的中心转动。