[发明专利]除错系统在审

专利信息
申请号: 202011363695.1 申请日: 2020-11-27
公开(公告)号: CN114547705A 公开(公告)日: 2022-05-27
发明(设计)人: 王婕妤;李朝明;彭作辉 申请(专利权)人: 瑞昱半导体股份有限公司
主分类号: G06F21/72 分类号: G06F21/72;G06F21/75
代理公司: 北京市君合律师事务所 11517 代理人: 毕长生;王再芊
地址: 中国台湾新*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 除错系统包括待测芯片及除错控制器。待测芯片包括待测电路、除错存取电路及除错保护电路。除错存取电路耦接于待测电路、除错保护电路及除错控制器。在保护功能未被启动时,除错保护电路开通除错存取电路及待测电路之间的通信,而除错控制器通过除错存取电路存取待测电路的数据以对待测电路进行除错。在保护功能被启动时,除错保护电路阻断除错存取电路及待测电路之间的通信,除错控制器通过除错存取电路将写入信息传送至除错保护电路,而除错保护电路根据写入信息判断是否停止保护功能。
搜索关键词: 除错 系统
【主权项】:
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