[发明专利]计数方法、计数电路、装置、设备及计算机存储介质在审
| 申请号： | 202011349767.7 | 申请日： | 2020-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN112489713A | 公开（公告）日： | 2021-03-12 |
| 发明（设计）人： | 周煜梁;汪毅 | 申请（专利权）人： | 昕原半导体（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G11C16/34 | 分类号： | G11C16/34;H03K23/66 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人： | 赵秀芹 |
| 地址： | 201306 上海市浦东新区中国（上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供了一种芯片使用寿命的计数方法、计数电路、装置、设备及计算机存储介质，该计数方法包括：判断是否发生影响芯片使用寿命的操作，且当发生影响芯片使用寿命的操作时对芯片使用寿命计数加1，芯片使用寿命计数通过当前循环计数值和循环次数值表示；当芯片使用寿命计数加1时，对当前循环计数值加1；判断当前循环计数值是否达到计数阈值，且当当前循环计数值达到计数阈值时，对循环次数值加1；将当前循环计数值和循环次数值写入非易失性存储器中用于存储芯片使用寿命的存储区域。根据本发明实施例可以大大提高了芯片使用寿命的计数范围，使其不受非易失性存储器写次数的限制。 | ||
| 搜索关键词： | 计数 方法 电路 装置 设备 计算机 存储 介质 | ||
【主权项】：
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