[发明专利]一种基于脉冲串技术的单光子测距系统及方法有效

专利信息
申请号: 202011337778.3 申请日: 2020-11-25
公开(公告)号: CN112526536B 公开(公告)日: 2023-09-22
发明(设计)人: 黎伟;程勇;万强;米朝伟;韦尚方;曹海源;初华;刘旭;刘云;田方涛 申请(专利权)人: 中国人民解放军陆军工程大学
主分类号: G01S17/10 分类号: G01S17/10
代理公司: 武汉宇晨专利事务所(普通合伙) 42001 代理人: 李鹏;王敏锋
地址: 430075 *** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种基于脉冲串技术的单光子测距系统,包括发射凸透镜、发射凹透镜、采样光敏管、激光器、LD驱动源、调Q驱动源、控制处理板、单光子探测器、窄带滤光片、接收凸透镜组成。本发明还公开了一种基于脉冲串技术的单光子测距方法,本发明采用高能量/低能量的双激光脉冲串结构,有利于减小测距盲区距离,降低近距离测距探测器的损伤风险,同时满足远距离目标测距需求;解决了单光子探测由于背景噪声和暗噪声的影响难以实现单次发射测距的问题,降低激光测距系统对噪声控制要求。
搜索关键词: 一种 基于 脉冲 技术 光子 测距 系统 方法
【主权项】:
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