[发明专利]一种提高计算平面边界面电荷密度精度的方法在审
| 申请号： | 202011312648.4 | 申请日： | 2020-11-20 |
| 公开（公告）号： | CN114519314A | 公开（公告）日： | 2022-05-20 |
| 发明（设计）人： | 严昌浩;曾璇;蔡伟 | 申请（专利权）人： | 复旦大学 |
| 主分类号： | G06F30/32 | 分类号： | G06F30/32 |
| 代理公司： | 上海元一成知识产权代理事务所(普通合伙) 31268 | 代理人： | 吴桂琴 |
| 地址： | 200433 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明属集成电路计算机辅助设计/电子设计自动化领域，具体涉及集成电路寄生参数提取方向中一种提高边界积分方程和随机混合法求解导体或介质平面边界面电荷密度的精度的方法。本方法以边界上待求点为球心构造一个半球体，与区域边界相交为一个平面圆盘，应用球面Green函数的第二类边界积分方程进行求解，将待求点处的面电荷密度转化为由半球面和平面圆盘构成的封闭曲面上的积分。本发明属一种局部性解法，可高精度计算局部边界上的面电荷密度，无需对互连线和介质边界表面进行离散；并具有随机法天然并行性的优势，易于实现大规模并行计算。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 提高 计算 平面 边界 电荷 密度 精度 方法 | ||
【主权项】：
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