[发明专利]存储器装置的温度管理在审

专利信息
申请号: 202011268691.5 申请日: 2020-11-13
公开(公告)号: CN112817519A 公开(公告)日: 2021-05-18
发明(设计)人: 罗婷;A·V·沃什;罗贤钢;J·黄 申请(专利权)人: 美光科技公司
主分类号: G06F3/06 分类号: G06F3/06;G11B33/14
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 王龙
地址: 美国爱*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本申请案涉及存储器装置的温度管理。本文中揭示的技术可用于改进存储器装置的交叉温度覆盖率,并在交叉温度状况下改进存储器装置可靠性。更具体地说,在执行存储器操作(例如存储器写入操作)时,基于所述存储器装置的温度度量及P/E循环度量,可从多个候选存储器修剪集选择存储器修剪集。所述候选存储器修剪集包含用于执行所述存储器操作的多个相应存储器修剪值(例如,存储器配置参数,例如编程电压阶跃大小、编程脉冲宽度、编程验证电平等,如上文所论述)。所述温度度量可以指示所述存储器装置的至少一区域(例如,所述整个装置、存储器平面、存储器块等)的温度,且所述P/E循环度量可以指示由所述存储器装置在选定时间间隔内执行的P/E循环的数目。
搜索关键词: 存储器 装置 温度 管理
【主权项】:
暂无信息
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