[发明专利]用于测量超导导体在不同磁场角度下交流损耗的装置及方法在审

专利信息
申请号: 202011247099.7 申请日: 2020-11-10
公开(公告)号: CN112485534A 公开(公告)日: 2021-03-12
发明(设计)人: 高鹏;施毅;韩厚祥;周超;刘方;秦经刚 申请(专利权)人: 中国科学院合肥物质科学研究院
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 安丽
地址: 230031 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明涉及用于测量超导导体在不同磁场角度下交流损耗的装置及方法,包括角度定位模块、顶端法兰、支撑腔体、导气管、样品腔体、样品支架、U形进液管和热电偶;角度定位模块与顶端法兰固定;顶端法兰与角度定位模块固定,顶端法兰与角度定位模块的相对角度可调;支撑腔体嵌入顶端法兰下端圆形凸起的环面,并通过和低温胶密封;导气管通过低温胶与样品腔体上法兰密封连接;样品腔体通过螺栓紧固和低温胶密封的方式与样品腔体上法兰连接,样品腔体上法兰通过三个均布的螺栓与支撑腔体下法兰固定;样品支架通过样品支架上、下法兰嵌入样品腔体内,并固定样品支架与样品腔体的位置;U形进液管通过低温胶与样品支架下法兰固定;热电偶通过低温胶固定在样品支架上。
搜索关键词: 用于 测量 超导 导体 不同 磁场 角度 交流 损耗 装置 方法
【主权项】:
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