[发明专利]内存测试装置以及测试电压调整方法在审
| 申请号： | 202011230109.6 | 申请日： | 2020-11-06 |
| 公开（公告）号： | CN112382328A | 公开（公告）日： | 2021-02-19 |
| 发明（设计）人： | 周少东;陈世兴;颜振亮;姜文贵 | 申请（专利权）人： | 润昇系统测试(深圳)有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/02 | 分类号： | G11C29/02;G11C29/50 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 何冲 |
| 地址： | 518101 广东省深圳市宝安区福海街道*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种内存测试装置以及测试电压调整方法。内存测试装置用以对至少一待测内存模块进行测试。所述内存测试装置包括主机、至少一测试板以及至少一检测器。主机提供测试流程；所述至少一测试板基于测试流程分别对所述至少一待测内存模块中的对应待测内存模块进行测试；各所述至少一检测器接收自所述至少一测试板中的对应测试板所提供的关联于测试流程的测试电压，依据所述测试电压的偏移产生电压偏移信息；主机依据电压偏移信息调整测试流程，使对应测试板依据经调整的测试流程调整测试电压。 | ||
| 搜索关键词： | 内存 测试 装置 以及 电压 调整 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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