[发明专利]内存测试装置以及测试电压调整方法

说明书

本发明提供一种内存测试装置以及测试电压调整方法。内存测试装置用以对至少一待测内存模块进行测试。所述内存测试装置包括主机、至少一测试板以及至少一检测器。主机提供测试流程；所述至少一测试板基于测试流程分别对所述至少一待测内存模块中的对应待测内存模块进行测试；各所述至少一检测器接收自所述至少一测试板中的对应测试板所提供的关联于测试流程的测试电压，依据所述测试电压的偏移产生电压偏移信息；主机依据电压偏移信息调整测试流程，使对应测试板依据经调整的测试流程调整测试电压。

技术领域

本发明涉及一种测试装置以及电压调整方法，且特别是涉及一种用于对待测内存模块进行测试的内存测试装置以及测试电压调整方法。

背景技术

现行的测试装置大致上都是对待测内存模块提供多个测试电压，以对待测内存模块进行测试。不同的测试板供货商所提供的测试板的测试电压的设定可能会有所不同。因此测试板的测试电压的供应可能会有差异。此外，在实际使用中，随着时间的推移，由于测试板的内部电路的衰变或组件的失效，测试电压可能会偏离所期望的实际电压值。因此，如何使测试板能够基于测试流程,提供精准的测试电压，是本领域技术人员努力研究的课题之一。

发明内容

本发明是针对一种内存测试装置以及测试电压调整方法，能够使不同的测试板能够基于测试流程提供精准的测试电压。

根据本发明的实施例，内存测试装置用以对至少一待测内存模块进行测试。所述内存测试装置包括主机、至少一测试板以及至少一检测器。所述主机经配置以提供测试流程。所述至少一测试板分别耦接于所述主机。所述至少一测试板经配置以基于所述测试流程分别对所述至少一待测内存模块中的对应待测内存模块进行测试。所述至少一检测器耦接于所述主机。所述至少一检测器以一对一方式与所述至少一测试板对应耦接。各所述至少一检测器经配置以接收自所述至少一测试板中的对应测试板所提供的关联于所述测试流程的测试电压，依据所述测试电压的偏移产生电压偏移信息。所述主机依据所述电压偏移信息提供用以调整所述测试流程的电压设定值以提供所述经调整的测试流程，使得所述对应测试板依据所述经调整的测试流程来调整所述测试电压。

根据本发明的实施例，测试电压调整方法用于内存测试装置。所述内存测试装置用以对至少一待测内存模块进行测试。所述内存测试装置包括主机、至少一测试板以及至少一检测器。所述至少一测试板以一对一方式与所述至少一检测器对应耦接。所述测试电压调整方法包括：由所述主机提供测试流程；由所述至少一测试板基于所述测试流程分别对所述至少一待测内存模块中的对应待测内存模块进行测试；由所述至少一检测器分别接收自所述至少一测试板中的对应测试板所提供的关联于所述测试流程的测试电压，并且依据所述测试电压的偏移产生电压偏移信息；以及由所述主机依据所述电压偏移信息提供用以调整所述测试流程的电压设定值以提供所述经调整的测试流程，使得所述对应测试板依据所述经调整的测试流程来调整所述测试电压。

基于上述，本发明的内存测试装置以及测试电压调整方法中，检测器接收对应测试板所提供的测试电压，并且依据测试电压的偏移产生电压偏移信息。主机依据电压偏移信息提供用以调整测试流程的电压设定值以提供所述经调整的测试流程。也就是说，检测器能够接收测试板所提供的实际测试电压，并依据测试电压的偏移产生电压偏移信息。因此，内存测试装置以及测试电压调整方法会基于实际测试电压的偏移对应调整电压设定值。如此一来，测试板能够基于测试流程提供精准的测试电压。

附图说明

图1是依据本发明第一实施例所绘示的内存测试装置的装置示意图。

图2是依据本发明第一实施例所绘示的测试电压调整方法的流程图。

图3是依据本发明第二实施例所绘示的内存测试装置的装置示意图。

图4是依据本发明第二实施例所绘示的测试电压调整方法的流程图。

附图标记说明

100、200：内存测试装置；