[发明专利]一种光学载荷绝对光谱响应度校准装置和方法在审
| 申请号： | 202011227760.8 | 申请日： | 2020-11-06 |
| 公开（公告）号： | CN114441036A | 公开（公告）日： | 2022-05-06 |
| 发明（设计）人： | 翟思婷;王加朋;张鑫;杜继东;赵丹 | 申请（专利权）人： | 北京振兴计量测试研究所 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100074 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种光学载荷绝对光谱响应度校准装置和方法，包括准直光学系统、隔振光学平台、标准成像辐射计、扫描控制系统、待测载荷、综合控制和数据处理系统、单色仪和宽光谱光源，宽光谱光源产生光束射入单色仪生成单色光束，当经过准直光学系统反射后通过标准成像辐射计，获得单色光束的强度信号；当单色光束直接被待测载荷接收，获得的单色光束强度信号，扫描控制系统控制待测载荷移动，综合控制和数据处理系统计算获得待测光学载荷每个像元的绝对光谱响应度。本发明进行大面阵的高分辨率光学载荷的校准，保证高分辨率光学载荷获取数据的准确性，这对后期数据的实际应用有着重大意义，是高分辨率光学载荷研制过程中不可或缺的重要环节。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学 载荷 绝对 光谱 响应 校准 装置 方法 | ||
【主权项】：
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