[发明专利]机床的对象物的位置测量方法及位置测量系统、计算机可读记录介质在审
| 申请号： | 202011223044.2 | 申请日： | 2020-11-05 |
| 公开（公告）号： | CN112775720A | 公开（公告）日： | 2021-05-11 |
| 发明（设计）人： | 神户礼士 | 申请（专利权）人： | 大隈株式会社 |
| 主分类号： | B23Q17/22 | 分类号： | B23Q17/22;G05B19/401 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 邓毅;黄纶伟 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供机床的对象物的位置测量方法及位置测量系统、计算机可读记录介质，能够自动地实施包含校正在内的全部的测量工序。机床的数值控制装置能够执行如下步骤：步骤(S1)，使用接触式传感器取得接触位置(Z1’)(基准刀具位置)；步骤(S2)，使用接触探头测量基准块的接触位置(Z2’)(基准块的位置)；步骤(S3)，根据接触位置(Z1’)、接触位置(Z2’)、距离(dZb)以及基准刀具的长度(Td)，计算接触探头的长度方向校正值(Tp’)；以及步骤(S4)，通过接触探头来测量对象物，并且使用接触探头的长度方向校正值(Tp’)来校正对象物的测量位置。 | ||
| 搜索关键词： | 机床 对象 位置 测量方法 测量 系统 计算机 可读 记录 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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