[发明专利]基于多级嵌套的电流采样精度校准方法和校准码产生方法在审

专利信息
申请号: 202011189820.1 申请日: 2020-10-30
公开(公告)号: CN114441843A 公开(公告)日: 2022-05-06
发明(设计)人: 耿翔;王佳煜 申请(专利权)人: 上海南芯半导体科技股份有限公司
主分类号: G01R19/25 分类号: G01R19/25;G01R19/32;G01R35/00
代理公司: 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 代理人: 葛启函
地址: 200120 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 基于多级嵌套的电流采样精度校准方法和校准码产生方法,通过模拟电流采样系统处于N种不同温度和M种不同电流的情况来产生N×M种对应条件下的校准码,首先设置N个不同的温度检测值,然后分别获取电流采样系统处于每个温度检测值时对应的M种电流情况下的校准码;随后检测电流采样系统的实时温度情况和输入电流情况,并根据检测结果选择对应温度情况和对应输入电流情况的校准码用于调节可调电阻的电阻值,采样进行调节后的可调电阻上的电压就获得了校准后的采样电流信息。本发明能够使得电流采样系数不受温度系数和电流系数的影响,保证了实时采样的高效性和准确性,具有适用范围广和适合实际应用的特点。
搜索关键词: 基于 多级 嵌套 电流 采样 精度 校准 方法 产生
【主权项】:
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