[发明专利]基于多级嵌套的电流采样精度校准方法和校准码产生方法在审

专利信息
申请号: 202011189820.1 申请日: 2020-10-30
公开(公告)号: CN114441843A 公开(公告)日: 2022-05-06
发明(设计)人: 耿翔;王佳煜 申请(专利权)人: 上海南芯半导体科技股份有限公司
主分类号: G01R19/25 分类号: G01R19/25;G01R19/32;G01R35/00
代理公司: 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 代理人: 葛启函
地址: 200120 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 基于 多级 嵌套 电流 采样 精度 校准 方法 产生
【权利要求书】:

1.一种提高电流采样精度的校准码产生方法,其特征在于,所述校准码产生方法通过分别模拟电流采样系统处于N种不同温度和M种不同电流的情况来产生共N×M种对应条件下的校准码,N和M均为大于1的正整数;

首先设置N个不同的温度检测值,然后分别获取所述电流采样系统处于每个温度检测值时对应的M种电流情况下的校准码;其中获取所述电流采样系统处于第i个温度检测值时对应的M种电流情况下的校准码的步骤如下,i为正整数且i∈[1,N]:

步骤1、检测所述电流采样系统的温度,当达到所述第i个温度检测值时转到步骤2,否则等待;

步骤2、将变量Q赋值初始值,计数器复位;

步骤3、依次进行M种电流情况的校准码生成,其中第j种电流情况对应的校准码生成方法如下,j为正整数且j∈[1,M]:

3.1、将变量Q的当前值赋值给校准码,计数器加一,其中所述校准码用于调节可调电阻的电阻值,所述可调电阻上流过的电流与所述电流采样系统的输入电流成正比;

3.2、不向所述电流采样系统输入电流,计数器重复加一L次,等待所述电流采样系统稳定,L为大于1的正整数;

3.3、获取所述可调电阻上的电压值并转换为对应的数字信号后存入第一寄存器,计数器加一;

3.4、向所述电流采样系统输入第j种电流情况的电流,计数器重复加一L次,等待所述电流采样系统稳定;

3.5、获取所述可调电阻上的电压值并转换为对应的数字信号后存入第二寄存器,计数器加一;

3.6、将第二寄存器中的值减去第一寄存器中的值后存入第三寄存器,计数器加一;

3.7、判断第三寄存器的值是否在精度要求范围内,若是则转到步骤3.10,否则转到步骤3.8;

3.8、当第三寄存器的值小于精度要求范围的最小值时,将变量Q值减一,且计数器加一;当第三寄存器的值大于精度要求范围的最大值时,将变量Q值加一,且计数器加一;

3.9、计数器复位,转到步骤3.1;

3.10、将变量Q的当前值作为第i个温度检测值对应的第j种电流情况下的校准码。

2.根据权利要求1所述的提高电流采样精度的校准码产生方法,其特征在于,在获取第i个温度检测值对应的第j种电流情况下的校准码时,步骤3.3和步骤3.5利用第一模数转换器进行所述可调电阻上的电压值至对应数字信号的转换,步骤3.7中将第三寄存器的值乘以所述第一模数转换器的最低有效位后除以对应的第j种电流情况的电流值得到采样系数G,令采样系数G的精度为±x,上下浮动y%,则所述精度要求范围为x×(1±y%),当采样系数Gx×(1-y%)时,变量Q值减一;当采样系数Gx×(1+y%)时,变量Q值加一;当采样系数G满足x×(1-y%)≤G≤x×(1+y%)时,将变量Q的当前值作为第i个温度检测值对应的第j种电流情况下的校准码。

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