[发明专利]基于多级嵌套的电流采样精度校准方法和校准码产生方法在审
申请号: | 202011189820.1 | 申请日: | 2020-10-30 |
公开(公告)号: | CN114441843A | 公开(公告)日: | 2022-05-06 |
发明(设计)人: | 耿翔;王佳煜 | 申请(专利权)人: | 上海南芯半导体科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R19/25 | 分类号: | G01R19/25;G01R19/32;G01R35/00 |
代理公司: | 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 | 代理人: | 葛启函 |
地址: | 200120 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 多级 嵌套 电流 采样 精度 校准 方法 产生 | ||
基于多级嵌套的电流采样精度校准方法和校准码产生方法,通过模拟电流采样系统处于N种不同温度和M种不同电流的情况来产生N×M种对应条件下的校准码,首先设置N个不同的温度检测值,然后分别获取电流采样系统处于每个温度检测值时对应的M种电流情况下的校准码;随后检测电流采样系统的实时温度情况和输入电流情况,并根据检测结果选择对应温度情况和对应输入电流情况的校准码用于调节可调电阻的电阻值,采样进行调节后的可调电阻上的电压就获得了校准后的采样电流信息。本发明能够使得电流采样系数不受温度系数和电流系数的影响,保证了实时采样的高效性和准确性,具有适用范围广和适合实际应用的特点。
技术领域
本发明属于模拟集成电路设计技术领域,涉及一种基于多级嵌套的电流采样精度校准方法和提高电流采样精度的校准码产生方法。
背景技术
电流环作为控制系统的内环,其性能影响着控制系统的质量。目前对电流环采样都是利用采样电阻对输出电流信息进行采集,但是由于受到工艺以及版图设计的影响,电流采样精度存在受温度系数和电流变化的影响,导致电流环的反馈值与理想值之间存在很大的误差,使得系统的性能下降。
为了提升电流采样精度,中国发明专利申请CN107505501A中公开了通过将采集续电流改为采集实相电流来避免采样电流信息的丢失,以及通过增大采样窗口并进行补偿的方式解决电流采样盲区问题的技术方案,但都没有考虑到温度系数对采样精度的影响,并且为了改善电流变化对精度的影响采用了十分复杂的算法和结构。
发明内容
为了解决现有电流采样电路存在采样精度随温度与电流变化而产生误差的问题,本发明提出一种提高电流采样精度的校准码产生方法,利用算法先对不同温度、不同电流下的电流采样系数进行校准,以准确获取不同温度和不同电流情况下的校准码;基于该校准码,本发明提出的一种基于多级嵌套的电流采样精度校准方法,根据电流采样系统的实际情况中对应温度和电流情况下调取对应的校准码,从而可以实现采样系数不受温度系数和电流系数的影响,保证了电流采样的高效性和准确性。
本发明产生校准码的技术方案为:
一种提高电流采样精度的校准码产生方法,所述校准码产生方法通过分别模拟电流采样系统处于N种不同温度和M种不同电流的情况来产生共N×M种对应条件下的校准码,N和M均为大于1的正整数;
首先设置N个不同的温度检测值,然后分别获取所述电流采样系统处于每个温度检测值时对应的M种电流情况下的校准码;其中获取所述电流采样系统处于第i个温度检测值时对应的M种电流情况下的校准码的步骤如下,i为正整数且i∈[1,N]:
步骤1、检测所述电流采样系统的温度,当达到所述第i个温度检测值时转到步骤2,否则等待;
步骤2、将变量Q赋值初始值,计数器复位;
步骤3、依次进行M种电流情况的校准码生成,其中第j种电流情况对应的校准码生成方法如下,j为正整数且j∈[1,M]:
3.1、将变量Q的当前值赋值给校准码,计数器加一,其中所述校准码用于调节可调电阻的电阻值,所述可调电阻上流过的电流与所述电流采样系统的输入电流成正比;
3.2、不向所述电流采样系统输入电流,计数器重复加一L次,等待所述电流采样系统稳定,L为大于1的正整数;
3.3、获取所述可调电阻上的电压值并转换为对应的数字信号后存入第一寄存器,计数器加一;
3.4、向所述电流采样系统输入第j种电流情况的电流,计数器重复加一L次,等待所述电流采样系统稳定;
3.5、获取所述可调电阻上的电压值并转换为对应的数字信号后存入第二寄存器,计数器加一;
3.6、将第二寄存器中的值减去第一寄存器中的值后存入第三寄存器,计数器加一;
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