[发明专利]兼容检测电路及其过零检测、门检测和掉电记忆检测方法在审
| 申请号： | 202011183341.9 | 申请日： | 2020-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN112595951A | 公开（公告）日： | 2021-04-02 |
| 发明（设计）人： | 李玉;聂显权;梁剑明;潘叶江 | 申请（专利权）人： | 华帝股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R19/175 |
| 代理公司： | 深圳市合道英联专利事务所(普通合伙) 44309 | 代理人： | 廉红果 |
| 地址： | 528400 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种兼容检测电路及其过零检测、门检测和掉电记忆检测方法，其中，兼容检测电路包括光耦检测模块根据二极管开关模块的打开和关闭输出高、低电平至控制模块，所述控制模块根据光耦检测模块的高、低电平获取脉冲波形以用于进行过零检测、门检测和掉电记忆检测。本发明的一种兼容检测电路，通过光耦检测模块根据二极管开关模块的打开和关闭输出高、低电平至控制模块，所述控制模块根据光耦检测模块的高、低电平获取脉冲波形以用于进行过零检测、门检测和掉电记忆检测，从而只占用MCU一个AD口资源，只有一路电路，即可同时进行零检测、门检测和掉电记忆检测，节省元器件，降低成本，节省PCB排布空间。 | ||
| 搜索关键词： | 兼容 检测 电路 及其 掉电 记忆 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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