[发明专利]具有测试机制的隔离电路及其测试方法在审
申请号: | 202011154200.4 | 申请日: | 2020-10-26 |
公开(公告)号: | CN114499492A | 公开(公告)日: | 2022-05-13 |
发明(设计)人: | 留国凯;郑至捷;薛培英 | 申请(专利权)人: | 瑞昱半导体股份有限公司 |
主分类号: | H03K19/0175 | 分类号: | H03K19/0175;G01R31/28 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 黄艳;郑特强 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 一种具有测试机制的隔离电路和一种隔离电路测试方法,该具有测试机制的隔离电路包含:隔离元件及测试电路。隔离元件在控制输入端接收到的信号具有致能状态时在数据输入端及数据输出端进行信号传输,在信号具有抑能状态时隔离。测试电路包含:多工器及控制电路。在测试模式下的位移操作状态中,控制电路控制多工器选择运行输入端接收具有致能状态的隔离控制信号输出至控制输入端。在测试模式下的抓取操作状态中,控制电路控制多工器选择测试输入端以接收具有致能状态或抑能状态的测试信号输出至控制输入端。控制电路依据数据输入端及数据输出端的信号判断隔离元件是否进行信号传输或隔离。 | ||
搜索关键词: | 具有 测试 机制 隔离 电路 及其 方法 | ||
【主权项】:
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