[发明专利]一种LED紫外芯片质量的评价方法有效
| 申请号： | 202011100109.4 | 申请日： | 2020-10-15 |
| 公开（公告）号： | CN112345963B | 公开（公告）日： | 2022-09-23 |
| 发明（设计）人： | 高春瑞;郑剑飞;苏水源 | 申请（专利权）人： | 厦门多彩光电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/44 | 分类号： | G01R31/44;G01M11/02;G01N21/956 |
| 代理公司： | 厦门市精诚新创知识产权代理有限公司 35218 | 代理人： | 黄斌 |
| 地址： | 361000 福建省厦门市火*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种LED紫外芯片质量的评价方法，该评价方法利用紫外线对硅胶的分解作用，在硅胶和芯片的接触面形成碳化，碳化的图像即展示了芯片的热量、紫外线分布情况，碳化图形分布越均匀，且碳化程度越小，说明芯片质量越好；反之，碳化图形分布不均匀，且碳化越明显，说明芯片质量越差，由于本发明提供的LED紫外芯片质量的评价方法仅需几个小时的测试就能够判断出LED紫外芯片的相对质量，相对于现有的测试方法大大节省了实验周期。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 led 紫外 芯片 质量 评价 方法 | ||
【主权项】：
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