[发明专利]一种基于干涉测量的单分子轴向定位装置及其工作方法

摘要

本发明提供了一种基于干涉测量的单分子轴向定位装置及其工作方法，其中，所述单分子轴向定位装置包括光源系统、照明及调制系统、显微成像系统和信号控制处理系统。本发明的激发光分为两路从相对位置照射样品，在样品处产生轴向干涉同时对样品的荧光分子进行激发。通过照明图案的相位和光源强度快速切换，实现不同相位的图像同时采集，然后对单分子在不同照明图案下的亮度计算其相对于照明条纹的相位，再通过相位对位置进行解析，从而实现更高的轴向定位精度。利用该技术可以实现对单分子的轴向位置测量，相比以往的定位方法具有精度高且不受干涉长度的影响等优点。