[发明专利]用于确定在晶片上生产的器件的特征的方法和器件在审
| 申请号： | 202011070639.9 | 申请日： | 2020-10-09 |
| 公开（公告）号： | CN112651206A | 公开（公告）日： | 2021-04-13 |
| 发明（设计）人： | C·齐默;D·拉多维克;E·S·施密特;M·屈内尔;M·赫尔曼;刘文庆;M·鲁比谦 | 申请（专利权）人： | 罗伯特·博世有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/392 | 分类号： | G06F30/392;H01L21/66 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 张凌苗;陈岚 |
| 地址： | 德国斯*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： |
用于确定在晶片上生产的器件的特征的方法和器件。本发明涉及一种用于推断在晶片（1）上生产的器件（2）的器件特征（ |
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| 搜索关键词： | 用于 确定 晶片 生产 器件 特征 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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