[发明专利]一种有机质孔隙形成与演化原位观测方法和应用在审

专利信息
申请号: 202011044880.4 申请日: 2020-09-28
公开(公告)号: CN114428092A 公开(公告)日: 2022-05-03
发明(设计)人: 潘安阳;席斌斌;卢龙飞;申宝剑;鲍芳 申请(专利权)人: 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院
主分类号: G01N23/2202 分类号: G01N23/2202;G01N23/2251
代理公司: 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 代理人: 吴大建;雷月
地址: 100728 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种有机质孔隙形成与演化原位观测方法和应用。所述有机质孔隙形成与演化原位观测方法包括以下步骤:步骤A、将样品进行微观观察;步骤B、将样品置于显微镜外接冷热台中,设置第一程序升温条件及第一终止温度,并记录有机质演化过程;步骤C、将样品进行有机质演化特征观察;步骤D、重复步骤B和步骤C一次或多次,不同的是,设置第二程序升温条件及第二终止温度,直至有机质消失。该方法能够用于页岩有机质孔隙形成与演化原位观测,为不同类型有机质孔隙形成与演化研究提供更加直接的技术支持。
搜索关键词: 一种 有机质 孔隙 形成 演化 原位 观测 方法 应用
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