[发明专利]一种有机质孔隙形成与演化原位观测方法和应用

权利要求书

1.一种有机质孔隙形成与演化原位观测方法，包括以下步骤：

步骤A、将样品进行微观观察；

步骤B、将样品置于显微镜外接冷热台中，设置第一程序升温条件及第一终止温度，并记录有机质演化过程；

步骤C、将样品进行有机质演化特征观察；

步骤D、重复步骤B和步骤C一次或多次，不同的是，设置第二程序升温条件及第二终止温度，直至有机质消失。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述样品经过切割、打磨和抛光处理；

优选地，所述抛光包括依次进行机械抛光和离子束抛光；

优选地，所述离子束抛光为氩离子抛光。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述样品的厚度不大于1mm，优选为0.5-1mm。

4.根据权利要求1-3中任意一项所述的方法，其特征在于，步骤A中，所述微观观察所采用的仪器为场发射扫描电镜。

5.根据权利要求1-4中任意一项所述的方法，其特征在于，所述微观观察包括样品的有机质原始形态、结构、有机质与矿物接触关系。

6.根据权利要求1-5中任意一项所述的方法，其特征在于，在步骤A的微观观察之前，该方法还包括对样品进行有机质原位标记；

优选地，所述有机质原位标记所采用的仪器为激光器。

7.根据权利要求1-6中任意一项所述的方法，其特征在于，所述第一程序升温和第二程序升温的条件各自独立地包括：升温速率为10-30℃/小时，达到终止温度后保持5-20分钟；和/或，

所述第一终止温度和第二终止温度各自独立地为120-600℃；和/或，

在重复步骤B和步骤C的过程中，前后两次的终止温度间隔35-100℃，优选为40-60℃；优选地，后一次的终止温度比前一次的终止温度高35-100℃，优选为40-60℃。

8.根据权利要求1-7中任意一项所述的方法，其特征在于，步骤B和步骤D中，记录有机质演化过程的方法包括采用拍照方式进行记录，优选地，所述拍照的时间间隔为5-120秒。

9.根据权利要求1-8中任意一项所述的方法，其特征在于，步骤C中，所述有机质演化特征观察所采用的仪器为场发射扫描电镜；和/或，

所述特征包括孔隙发育特征、有机质形态、结构和有机质与矿物接触关系。

10.权利要求1-9中任意一项所述的有机质孔隙形成与演化原位观测方法在油气勘探中的应用。