[发明专利]液晶空间光调制器相位特性的测量校准装置及方法在审
| 申请号： | 202011041828.3 | 申请日： | 2020-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN114323569A | 公开（公告）日： | 2022-04-12 |
| 发明（设计）人： | 刘子晨;邱英;陶金;尤全;肖希;余少华 | 申请（专利权）人： | 武汉邮电科学研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙) 42225 | 代理人： | 孟欢 |
| 地址： | 430074 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种液晶空间光调制器相位特性的测量校准装置及方法，该装置包括光源、准直器、半波片、LC‑SLM、干涉仪和CCD，光源用于发射信号光；准直器用于将光源发射的信号光扩束为平行光；半波片用于将准直器转换后的平行光转换为线偏振光；LC‑SLM用于使一部分的线偏振光不经过相位调制后进行输出，另一部分的线偏振光经过相位调制后进行输出；干涉仪具有两个小孔，其用于使未经过相位调制后的线偏振光和经过相位调制后的线偏振光分别通过两个小孔后发生干涉；图像探测器CCD用于探测干涉后的线偏振光。本申请的液晶空间光调制器相位特性的测量校准装置，得到的干涉图像稳定性更好，计算准确性也更好，而且结构简单，成本较低。 | ||
| 搜索关键词： | 液晶 空间 调制器 相位 特性 测量 校准 装置 方法 | ||
【主权项】：
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