[发明专利]测量装置和测量装置系统在审

专利信息
申请号: 202011024914.3 申请日: 2020-09-25
公开(公告)号: CN112556663A 公开(公告)日: 2021-03-26
发明(设计)人: 石锅郁夫;大友文夫;熊谷薰 申请(专利权)人: 株式会社拓普康
主分类号: G01C15/00 分类号: G01C15/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 刘茜璐;闫小龙
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及测量装置和测量装置系统。具有:使测距光轴和光接收光轴一体地偏转的光轴偏转部、具有与所述测距光轴共享一部分的窄角拍摄光轴的窄角拍摄部、测距运算部、以及运算控制部,在所述测距光轴和所述窄角拍摄光轴的共享部分设置由波长特性不同的多个光学构件构成的波长色散补偿棱镜,所述运算控制部被构成为基于测距光的信号和反射测距光的信号来进行测定点的测距,取得由所述波长色散补偿棱镜补偿了色散的窄角图像。
搜索关键词: 测量 装置 系统
【主权项】:
暂无信息
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