[发明专利]一种多光谱复合光电探测设备光轴校准装置在审

专利信息
申请号: 202011023204.9 申请日: 2020-09-25
公开(公告)号: CN114252239A 公开(公告)日: 2022-03-29
发明(设计)人: 杜继东;吴柯萱;张鑫;杨海生;王志 申请(专利权)人: 北京振兴计量测试研究所
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100074 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种多光谱复合光电探测设备光轴校准装置,包括复合光源、靶标、准直光学系统,复合光源采用积分球构型,用于输出宽光谱范围的复合光束;靶标固定在所述准直光学系统的焦平面位置处,靶标中心开设圆孔,且圆孔中心位于准直光学系统的零像差点上;准直光学系统用于复合光束的反射、准直及出射。本发明可以实现红外探测器光轴、可见光探测器光轴、激光发射/接收光轴的一致性调试与测量,解决多光谱复合探测光电传感器实验室内快速、高精度光轴一致性校准的问题,特别适用于光学导引头、光电侦查吊舱等多光轴高精度校准。
搜索关键词: 一种 光谱 复合 光电 探测 设备 光轴 校准 装置
【主权项】:
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