[发明专利]一种多光谱复合光电探测设备光轴校准装置在审
申请号: | 202011023204.9 | 申请日: | 2020-09-25 |
公开(公告)号: | CN114252239A | 公开(公告)日: | 2022-03-29 |
发明(设计)人: | 杜继东;吴柯萱;张鑫;杨海生;王志 | 申请(专利权)人: | 北京振兴计量测试研究所 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100074 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种多光谱复合光电探测设备光轴校准装置,包括复合光源、靶标、准直光学系统,复合光源采用积分球构型,用于输出宽光谱范围的复合光束;靶标固定在所述准直光学系统的焦平面位置处,靶标中心开设圆孔,且圆孔中心位于准直光学系统的零像差点上;准直光学系统用于复合光束的反射、准直及出射。本发明可以实现红外探测器光轴、可见光探测器光轴、激光发射/接收光轴的一致性调试与测量,解决多光谱复合探测光电传感器实验室内快速、高精度光轴一致性校准的问题,特别适用于光学导引头、光电侦查吊舱等多光轴高精度校准。 | ||
搜索关键词: | 一种 光谱 复合 光电 探测 设备 光轴 校准 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京振兴计量测试研究所,未经北京振兴计量测试研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202011023204.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种自动化茯苓食品加工生产用快速蒸煮装置
- 下一篇:一种电动推杆润滑油路结构