[发明专利]基于March算法的DRAM故障检测方法和装置在审
申请号: | 202010982769.3 | 申请日: | 2020-09-17 |
公开(公告)号: | CN112151103A | 公开(公告)日: | 2020-12-29 |
发明(设计)人: | 魏佳辉;刘敏;戴洋洋;陈宗廷;李斌 | 申请(专利权)人: | 深圳市宏旺微电子有限公司 |
主分类号: | G11C29/18 | 分类号: | G11C29/18 |
代理公司: | 深圳市诺正鑫泽知识产权代理有限公司 44689 | 代理人: | 林国友 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本申请提供了一种基于March算法的DRAM故障检测方法和装置,运用于半导体集成电路测试技术领域,通过不同数据背景对一个存储单元的反复读写,能够检测到原有March算法难以发现的单元内不同位之间的耦合故障,同时能够检测内存单元的读写稳定性,通过在写操作和读操作之间增加一个延迟操作,若芯片内部出现漏电故障BF,则高电压的cell会向低电压的cell漏电,经过一段时间的漏电之后高电压的cell则不能维持原有的数据,故会发生故障,而增加的延迟延时操作可以有效检测到存储单元的数据保留故障DRF。 | ||
搜索关键词: | 基于 march 算法 dram 故障 检测 方法 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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