[发明专利]芯片检测设备在审
申请号: | 202010956644.3 | 申请日: | 2020-09-11 |
公开(公告)号: | CN111948220A | 公开(公告)日: | 2020-11-17 |
发明(设计)人: | 李英坤;赵鑫;张太鹏;陈龙;姜豪;刘风雷 | 申请(专利权)人: | 浙江水晶光电科技股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/892 | 分类号: | G01N21/892 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 孙海杰 |
地址: | 318000 浙江省台州市椒*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种芯片检测设备,涉及芯片检测技术领域,所述芯片检测设备包括:滑轨结构、抽取装置、运输装置和图像采集检测装置;所述抽取装置用于将弹夹内的芯片载板抽出并放置在滑轨结构上;所述运输装置用于将所述滑轨结构上的芯片载板运输到检测位置,或者将检测位置的芯片载板从检测位置移出;所述图像采集检测装置位于所述检测位置的上方,用于采集芯片载板上芯片的图像,并将所述图像与标准图像进行比较,从而获取芯片载板上芯片的缺陷。 | ||
搜索关键词: | 芯片 检测 设备 | ||
【主权项】:
暂无信息
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