[发明专利]一种vSAN性能测试方法、装置、计算机设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 202010930265.7 申请日: 2020-09-07
公开(公告)号: CN112187564B 公开(公告)日: 2022-07-08
发明(设计)人: 阎秀忠 申请(专利权)人: 苏州浪潮智能科技有限公司
主分类号: H04L43/50 分类号: H04L43/50;H04L43/0817;H04L43/067;H04L41/069
代理公司: 北京连和连知识产权代理有限公司 11278 代理人: 宋薇薇;杨帆
地址: 215100 江苏省苏州市吴*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种vSAN性能测试方法、装置、计算机设备及存储介质。所述方法包括:对待测试vSAN进行VMware认证测试,并获取VMware认证测试生成的日志文件;利用预设关键字从所述日志文件中提取测试单元对应的日志信息;对测试单元对应的日志信息进行分析计算,以确定所述测试单元的持续时间;将所述测试单元的持续时间与预设参考时间进行比较,若所述持续时间大于预设参考时间,则确认所述待测试vSAN在VMware认证测试中执行所述测试单元时阻塞并基于阻塞判断vSAN的性能。本发明的方案具有测试周期短的优点,并且能够节省搭建测试环境及数据分析处理的资金、人力的投入,为后续评价vSAN的稳定性提供了可靠依据。
搜索关键词: 一种 vsan 性能 测试 方法 装置 计算机 设备 存储 介质
【主权项】:
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