[发明专利]一种vSAN性能测试方法、装置、计算机设备及存储介质

说明书

本发明公开了一种vSAN性能测试方法、装置、计算机设备及存储介质。所述方法包括：对待测试vSAN进行VMware认证测试，并获取VMware认证测试生成的日志文件；利用预设关键字从所述日志文件中提取测试单元对应的日志信息；对测试单元对应的日志信息进行分析计算，以确定所述测试单元的持续时间；将所述测试单元的持续时间与预设参考时间进行比较，若所述持续时间大于预设参考时间，则确认所述待测试vSAN在VMware认证测试中执行所述测试单元时阻塞并基于阻塞判断vSAN的性能。本发明的方案具有测试周期短的优点，并且能够节省搭建测试环境及数据分析处理的资金、人力的投入，为后续评价vSAN的稳定性提供了可靠依据。

技术领域

本申请涉及测试领域，尤其涉及一种vSAN性能测试方法、装置、计算机设备及存储介质。

背景技术

vSAN（virtual SAN）是一种分布式存储架构，其上可部署大量的应用，具有高可用等优点。vSAN由缓存层和容量层两部分组成，在写过程中首先将数据写入缓存层中，待缓存层数据容量达到一定量后被转入容量层；读过程中首先从缓存读取数据，从缓存层中未读取到时再到容量层读取。vSAN中经常出现缓存层数据已满盘，但后端容量层一直无法完全处理缓存层传递的数据的情况，导致大量数据阻塞，此时将会出现较大延迟、卡顿、甚至操作中断等情形。近些年来，vSAN被广泛的应用于通信、金融等领域，为不影响关键应用终端用户的良好感知，对vSAN稳定性提出了较高要求。

目前，vSAN性能测试主要通过搭建模拟客户现场的vSAN环境，此种方式需要大量硬件支持，并且还需要投入大量人力用于测试执行及后期数据分析，测试周期较长，因此现有的vSAN性能测试亟需改进。

发明内容

有鉴于此，有必要针对以上技术问题提供一种vSAN性能测试方法、装置、计算机设备及存储介质。

根据本发明的一方面，提供了一种vSAN性能测试方法，所述方法包括：

对待测试vSAN进行VMware认证测试，并获取VMware认证测试生成的日志文件；

利用预设关键字从所述日志文件中提取测试单元对应的日志信息；

对测试单元对应的日志信息进行分析计算，以确定所述测试单元的持续时间；

将所述测试单元的持续时间与预设参考时间进行比较，若所述持续时间大于预设参考时间，则确认所述待测试vSAN在VMware认证测试中执行所述测试单元时阻塞并基于所述阻塞判断所述vSAN的性能。

在其中一个实施例中，所述对待测试vSAN进行VMware认证测试，并获取VMware认证测试生成的日志文件的步骤包括：

对所述待测试vSAN进行LTreset测试，并生成LTreset日志；

获取所述LTreset日志。

在其中一个实施例中，所述利用预设关键字从所述日志文件中提取测试单元对应的日志信息的步骤包括：

利用第一预设关键字从所述LTreset日志中筛选出测试开始日志信息；

利用第二预设关键字从所述LTreset日志中筛选出测试结束日志信息。

在其中一个实施例中，所述对测试单元对应的日志信息进行分析计算，以确定所述测试单元的持续时间的步骤包括：

利用预设提取函数从所述测试开始日志信息中提取测试开始时间；

利用预设提取函数从所述测试结束日志信息中提取测试结束时间；

将所述测试结束时间与所述测试开始时间的差值作为所述持续时间。

在其中一个实施例中，所述LTreset测试包括多个测试单元。