[发明专利]一种vSAN性能测试方法、装置、计算机设备及存储介质

权利要求书

1.一种vSAN性能测试方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

对待测试vSAN进行VMware认证测试，并获取VMware认证测试生成的日志文件；

利用预设关键字从所述日志文件中提取测试单元对应的日志信息，其中，测试单元即为使vSAN进行读写的最小单位；

对测试单元对应的日志信息进行分析计算，以确定所述测试单元的持续时间；

将所述测试单元的持续时间与预设参考时间进行比较，若所述持续时间大于预设参考时间，则确认所述待测试vSAN在VMware认证测试中执行所述测试单元时阻塞并基于所述阻塞判断所述vSAN的性能。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对待测试vSAN进行VMware认证测试，并获取VMware认证测试生成的日志文件的步骤包括：

对所述待测试vSAN进行LTreset测试，并生成LTreset日志；

获取所述LTreset日志。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述利用预设关键字从所述日志文件中提取测试单元对应的日志信息的步骤包括：

利用第一预设关键字从所述LTreset日志中筛选出测试开始日志信息；

利用第二预设关键字从所述LTreset日志中筛选出测试结束日志信息。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述对测试单元对应的日志信息进行分析计算，以确定所述测试单元的持续时间的步骤包括：

利用预设提取函数从所述测试开始日志信息中提取测试开始时间；

利用预设提取函数从所述测试结束日志信息中提取测试结束时间；

将所述测试结束时间与所述测试开始时间的差值作为所述持续时间。

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述LTreset测试包括多个测试单元。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取每个测试单元的持续时间和测试开始时间；

按照时间顺序以折线图方式展示每个测试单元的持续时间。

7.根据权利要求1-6任意一项所述的方法，其特征在于，所述vSAN具有缓存层和容量层，所述缓存层为固态硬盘，所述容量层为机械硬盘。

8.一种vSAN性能测试装置，其特征在于，所述装置包括：

日志文件获取模块，用于对待测试vSAN进行VMware认证测试，并获取VMware认证测试生成的日志文件；

提取模块，用于利用预设关键字从所述日志文件中提取测试单元对应的日志信息，其中，测试单元即为使vSAN进行读写的最小单位；

分析计算模块，用于对测试单元对应的日志信息进行分析计算，以确定所述测试单元的持续时间；

比较模块，用于将所述测试单元的持续时间与预设参考时间进行比较，若所述持续时间大于预设参考时间，则确认所述待测试vSAN在VMware认证测试中执行所述测试单元时阻塞并基于所述阻塞判断所述vSAN的性能。

9.一种计算机设备，其特征在于，包括：

至少一个处理器；以及

存储器，所述存储器存储有可在所述处理器中运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时执行权利要求1-7任意一项所述的方法。

10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时执行权利要求1-7任意一项所述的方法。