[发明专利]一种纳米晶硬质合金均匀性的测量方法在审
| 申请号： | 202010918898.6 | 申请日： | 2020-09-04 |
| 公开（公告）号： | CN111999326A | 公开（公告）日： | 2020-11-27 |
| 发明（设计）人： | 梁瑜;龚红;丁辉辉;汤昌仁 | 申请（专利权）人： | 江西江钨硬质合金有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/203 | 分类号： | G01N23/203;G01N23/20008;G01N1/32 |
| 代理公司： | 南昌贤达专利代理事务所(普通合伙) 36136 | 代理人： | 张文宣 |
| 地址： | 336000 *** | 国省代码： | 江西;36 |
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| 摘要： | 本发明涉及合金晶粒尺寸测量领域，具体公开了一种纳米晶硬质合金均匀性的测量方法。本测量方法包括制样、观测、统计三步骤；所述的制样包括镜面抛光和金相腐蚀步骤；其中金相腐蚀又包括首次WC腐蚀、钴相腐蚀、再次WC腐蚀步骤；所述的观测是使用场发射扫描电镜，并通过背散射电子成像拍摄20000‑40000倍显微组织照片。所述的统计是使用测量软件测量合金的每一粒晶粒粒度，统计数据并画出粒度分布图，来表征合金的均匀性。本发明既适用于为以Co作粘结相的WC/Co硬质合金，也适用于以立方相碳化物、TiC、Ti(C.N)之中的任一种为抑制剂的纳米晶硬质合金均匀性的测量。应用本发明可以简单快速完成纳米晶硬质合金均匀性的测量并可显著提髙图像分辨率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 纳米 硬质合金 均匀 测量方法 | ||
【主权项】：
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