[发明专利]漏磁检测表征缺陷宽度的方法有效
| 申请号： | 202010893621.2 | 申请日： | 2020-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN111999377B | 公开（公告）日： | 2023-04-07 |
| 发明（设计）人： | 张闯;杜鹏;孙博;金亮;齐磊;刘素贞;杨庆新 | 申请（专利权）人： | 河北工业大学 |
| 主分类号： | G01N27/83 | 分类号： | G01N27/83;G01N27/85;G01B7/02 |
| 代理公司： | 天津翰林知识产权代理事务所(普通合伙) 12210 | 代理人： | 付长杰 |
| 地址： | 300130 天津市红桥区*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： |
本发明漏磁检测表征缺陷宽度的方法，该方法利用轴向漏磁变化率的极值点间的轴向距离来表征缺陷宽度，从信号的变化率角度进行考虑，轴向漏磁相对其他两个分量受提离距离影响程度低，在不同提离距离下时，获得的缺陷宽度差距较小，精度较高。本方法不受缺陷深度的大小和信号采集过程中装置提离距离波动的影响，稳定表征大于max(x |
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| 搜索关键词： | 检测 表征 缺陷 宽度 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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