[发明专利]用于单源多能成像系统的三能级线阵探测器在审
| 申请号： | 202010871238.7 | 申请日： | 2020-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN112098441A | 公开（公告）日： | 2020-12-18 |
| 发明（设计）人： | 王*召;方志强;张楠;何承林;杨俊越 | 申请（专利权）人： | 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04;G01V5/00;H01L27/146 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 余明伟 |
| 地址： | 201201 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种用于单源多能成像系统的三能级线阵探测器，沿入射方向自上而下包括第一闪烁体层、第一光电二极管阵列层、第二闪烁体层、第二光电二极管阵列层、第三闪烁体层及第三光电二极管阵列层，X射线入射至第一闪烁体层并依次经过第二闪烁体层及第三闪烁体层，不同能量的X射线被对应的闪烁体层吸收并转换为可见光；其中，第一闪烁体层的厚度＜第二闪烁体层的厚度＜第三闪烁体层的厚度；第一闪烁体层的密度＜第二闪烁体层的密度＜第三闪烁体层的密度；第一闪烁体层的衰减长度＞第二闪烁体层的衰减长度＞第三闪烁体层的衰减长度。本发明可以精细、精准地区分物质属性，尤其适用于辨别区分较厚以及有效原子序数相近的物质。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 多能 成像 系统 能级 探测器 | ||
【主权项】：
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