[发明专利]一种粗指向机构两轴正交性测试系统及方法有效
| 申请号： | 202010852068.8 | 申请日： | 2020-08-21 |
| 公开（公告）号： | CN112098050B | 公开（公告）日： | 2022-08-12 |
| 发明（设计）人： | 呼新荣;王静;张建华;任兰旭;张缓缓;薛婧婧;李帅 | 申请（专利权）人： | 西安空间无线电技术研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G02B27/62 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 陈鹏 |
| 地址： | 710100 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 一种粗指向机构两轴正交性测试系统及方法，首先将待测粗指向机构与光电收发装置、平面镜装置进行粗对准；保持待测粗指向机构的俯仰轴系固定，反复调节平面镜调节工装并旋转方位轴，使光斑位置轨迹、画圈范围最小得到方位轴的光斑基准点；调节工装使光电收发装置的同轴度位置与方位轴光斑基准点最接近；再以方位轴系不同角度为基础，分别转动俯仰轴系，寻找光斑位置轨迹、画圈范围最接近光电收发装置同轴度位置的俯仰轴系角度和光斑位置，确定俯仰轴系、方位轴系角度后计算待测粗指向机构的同轴度值，完成正交性测试，解决了传统粗指向机构正交性测试中容易出现测试误差大、测试难度高的问题，能够实现光电系统的集成和轴系校正。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 指向 机构 正交 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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