[发明专利]一种逆导型SiC GTO半导体器件及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202010841224.0 申请日: 2020-08-20
公开(公告)号: CN111969054A 公开(公告)日: 2020-11-20
发明(设计)人: 王俊;刘航志 申请(专利权)人: 湖南大学
主分类号: H01L29/744 分类号: H01L29/744;H01L29/745;H01L29/06;H01L21/332
代理公司: 北京精金石知识产权代理有限公司 11470 代理人: 肖乐愈秋
地址: 410082 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明提供了一种逆导型SiC GTO半导体器件及其制备方法,属于高压电力电子技术领域。该半导体结构包括:第一掺杂类型P+注入层,第二掺杂类型N+注入层,第一掺杂类型P缓冲层,第一掺杂类型P‑漂移层,第二掺杂类型N基区,第二掺杂类型隔离N基区201‑2,以及第一掺杂类型P+阳极层;将普通GTO正向导通和PiN二极管反向续流的功能集成在一种半导体器件中,与两种器件并联使用相比,封装可靠性高,并且可大幅节省芯片面积,降低连接寄生阻抗,提高器件开关速度,同时避免模块式封装体积大、功率密度低的缺点;其制备方法在普通GTO工艺流程基础上加入少量步骤即可完成。
搜索关键词: 一种 逆导型 sic gto 半导体器件 及其 制备 方法
【主权项】:
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