专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]半导体器件-CN202211392448.3在审
  • 穆纳福·T·A·拉希莫;尤利安·尼斯托尔 - MQ半导体股份公司
  • 2022-11-08 - 2023-05-09 - H01L29/744
  • 具有五层结构的功率半导体器件包括与阴极区和栅极电极相邻的具有高掺杂物浓度的第一基层。安排在第一底层和漂移层之间的第二底层具有与第一底层相同的掺杂剂类型和较低的掺杂剂浓度。第一底层包括相邻排列的阴极基区和栅极基区,从而使阴极基区与阴极区接触。阴极基区的掺杂物浓度比栅极基区低,和/或栅极基区的深度比阴极基区大,以实现阻断状态下场的优化分布,并提高在动态雪崩条件下工作时的最大关断电流能力。
  • 半导体器件
  • [实用新型]一种逆导晶闸管芯片-CN202121478715.X有效
  • 徐爱民;刘峻峰 - 江苏扬杰润奥半导体有限公司
  • 2021-06-30 - 2022-01-11 - H01L29/744
  • 本实用新型属于半导体元件技术领域,尤其涉及一种逆导晶闸管芯片。其包括门极、放大门极、晶闸管芯片及设置于晶闸管芯片外围的二极管及隔离槽,隔离槽位于二极管与晶闸管芯片之间,放大门极包括若干与门极连接且以门极为中心间隔排布的T型枝条。本实用新型用于解决现有逆导晶闸管芯片性能参数较低的问题。采用4个T型的放大门极结构,使该器件的导通速度更快,具有更高的di/dt值,重复值可达到350A/μS。
  • 一种晶闸管芯片
  • [实用新型]一种IGCT独立门极封装结构-CN202022890832.9有效
  • 陈蓓璐;陈乐辉;朱敏 - 江阴市赛英电子股份有限公司
  • 2020-12-07 - 2021-08-20 - H01L29/744
  • 本实用新型涉及一种IGCT独立门极封装结构,属于IGCT技术领域。包括阴极法兰(6)、瓷环(5)和阴极铜块(1),所述瓷环(5)上端面设有阴极法兰(6),所述瓷环(5)下端面设有阴极密封圈(2),所述阴极密封圈(2)底部外端设有阴极引出环(3),所述阴极法兰(6)、瓷环(5)、阴极铜块(1)、阴极密封圈(2)和阴极引出环(3)上下同心叠合设置,所述瓷环(5)上穿设若干独立门极(4),若干所述独立门极(4)环向均匀间隔设置。所述瓷环(5)厚度大于10mm。本申请通过厚型的瓷环取代上瓷环和下瓷环对独立门极的封装,不仅减小了电干扰性,而且解决了薄型瓷环变形和开裂的问题,提高了IGCT器件陶瓷封装外壳的成品率和可靠性。
  • 一种igct独立封装结构
  • [发明专利]一种逆导型碳化硅n-GTO晶闸管及其制备方法-CN202110532677.X在审
  • 王俊;刘航志;梁世维;俞恒裕;岳伟;张倩;杨余 - 湖南大学
  • 2021-05-17 - 2021-08-17 - H01L29/744
  • 本发明公开了一种逆导型碳化硅n‑GTO晶闸管半导体器件,包括自下而上设置的阳极结构、漂移层结构、门极结构以及阴极结构;阳极结构包括自下而上设置的阳极金属电极、第一掺杂类型P+注入层、第一掺杂类型P缓冲层以及设置在右边的第二掺杂类型N+层;漂移层结构包括自下而上设置的第二掺杂类型N场截止层和第二掺杂类型N‑漂移层;门极结构包括自下而上设置的第一掺杂类型P基区和栅极金属电极。该半导体器件结构通过将n‑GTO晶闸管与反向续流PiN二极管集成在同一器件结构上,从而有效降低芯片面积,提高系统功率密度和集成度,利用高质量的n型碳化硅衬底进行加工,并在普通碳化硅GTO晶闸管制备工艺流程上加入少量工艺步骤,即可完成全部制作过程。
  • 一种逆导型碳化硅gto晶闸管及其制备方法
  • [发明专利]一种逆导型SiC GTO半导体器件及其制备方法-CN202010841224.0在审
  • 王俊;刘航志 - 湖南大学
  • 2020-08-20 - 2020-11-20 - H01L29/744
  • 本发明提供了一种逆导型SiC GTO半导体器件及其制备方法,属于高压电力电子技术领域。该半导体结构包括:第一掺杂类型P+注入层,第二掺杂类型N+注入层,第一掺杂类型P缓冲层,第一掺杂类型P‑漂移层,第二掺杂类型N基区,第二掺杂类型隔离N基区201‑2,以及第一掺杂类型P+阳极层;将普通GTO正向导通和PiN二极管反向续流的功能集成在一种半导体器件中,与两种器件并联使用相比,封装可靠性高,并且可大幅节省芯片面积,降低连接寄生阻抗,提高器件开关速度,同时避免模块式封装体积大、功率密度低的缺点;其制备方法在普通GTO工艺流程基础上加入少量步骤即可完成。
  • 一种逆导型sicgto半导体器件及其制备方法
  • [发明专利]一种具有高电流上升率的栅控晶闸管-CN201710706916.2有效
  • 李泽宏;林育赐;谢驰;罗蕾;李佳驹;任敏;张波 - 电子科技大学
  • 2017-08-17 - 2019-12-10 - H01L29/744
  • 本发明提供了一种具有高电流上升率的栅控晶闸管,属于功率器件技术领域。本发明自下而上包括依次层叠设置的金属阳极、第一导电类型半导体掺杂衬底,第二导电类型半导体掺杂外延层,所述第二导电类型半导体掺杂外延层的上表面设置有金属阴极和绝缘栅,所述第二导电类型半导体掺杂外延层的顶层两端分别设置有第一导电类型半导体掺杂阱区,第二导电类型半导体掺杂阱区和第一导电类型半导体重掺杂区,第二导电类型半导体掺杂阱区材料的禁带宽度大于第一导电类型半导体掺杂阱区材料的禁带宽度,第一导电类型半导体掺杂阱区材料的禁带宽度大于第二导电类型半导体掺杂外延层的禁带宽度。基于本发明器件结构能够大幅度提高了栅控晶闸管的电流上升率。
  • 一种具有电流上升晶闸管

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