[发明专利]一种具有盘面在位测量与修整功能的抛光机有效

专利信息
申请号: 202010822565.3 申请日: 2020-08-14
公开(公告)号: CN112157561B 公开(公告)日: 2022-03-29
发明(设计)人: 朱祥龙;康仁科;董志刚;马堃;徐嘉慧;金洙吉 申请(专利权)人: 大连理工大学
主分类号: B24B29/02 分类号: B24B29/02;B24B41/02;B24B41/04;B24B47/12;B24B47/20
代理公司: 大连东方专利代理有限责任公司 21212 代理人: 鲁保良;李洪福
地址: 116024 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 发明公开了一种具有盘面在位测量与修整功能的抛光机,包括底座、主轴、抛光盘、支撑单元、进给单元、测量单元、修整单元和计算机;所述的进给单元、测量单元与修整单元分别安装在支撑单元上。本发明支持双工位同时抛光加工。进给单元在加工过程中可带动工件沿复杂轨迹运动,从而提高工件与抛光盘接触的均匀性,进而提高抛光精度。测量单元可在位测量抛光盘表面的面形、对抛光机的加工稳定性进行评价,从而指导抛光盘表面的修整或更换。修整单元可以在位修整抛光盘表面,使其面形精度提升,进而保证抛光机的加工精度。本发明实现抛光盘面形的在位修整,使抛光机始终保持良好的加工状态,进而保证工件的面形精度与表面质量、降低废品率。
搜索关键词: 一种 具有 盘面 在位 测量 修整 功能 抛光机
【主权项】:
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