[发明专利]相位校正装置及方法、测距装置、相位变动检测装置在审
申请号: | 202010816823.7 | 申请日: | 2020-08-14 |
公开(公告)号: | CN113364456A | 公开(公告)日: | 2021-09-07 |
发明(设计)人: | 西川正树;大高章二 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社 |
主分类号: | H03L7/18 | 分类号: | H03L7/18 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 杨谦 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 实施方式提供能够对本地振荡器中的相位变动进行检测的相位校正装置、测距装置、相位变动检测装置以及相位校正方法。实施方式的相位校正装置具备:本地振荡器,具有基于参考时钟而生成本地振荡信号的PLL,对检测所输入的信号的相位的装置给予所述本地振荡信号;第一相位检测器,包含于所述PLL,检测并输出所述本地振荡信号的相位;基准相位器,基于所述参考时钟,生成并输出与所述本地振荡器的初始设定时的所述本地振荡信号的基准相位对应的准基准相位;第二相位检测器,基于由所述第一相位检测器检测到的相位和所述准基准相位,检测所述本地振荡器的相位的变动量;以及校正电路,使用第二相位检测器的检测结果对所述输入的信号的相位进行校正。 | ||
搜索关键词: | 相位 校正 装置 方法 测距 变动 检测 | ||
【主权项】:
暂无信息
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