[发明专利]一种同时扫描与分幅X光测量系统在审
| 申请号： | 202010792921.1 | 申请日： | 2020-08-10 |
| 公开（公告）号： | CN111999319A | 公开（公告）日： | 2020-11-27 |
| 发明（设计）人： | 李晋;张兴;王峰;杨志文;胡昕;董建军;黎宇坤 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 中国工程物理研究院专利中心 51210 | 代理人： | 冯玲玲 |
| 地址： | 621999 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种同时扫描与分幅X光测量系统，该系统包括双通道X射线成像系统、透射式X射线编码板和X射线条纹相机以及与X射线条纹相机相连接的解码器。本发明的同时扫描与分幅X光测量系统，能够从同一视角采用同一记录系统同时记录待测目标的一维连续变化过程图像和二维分幅图像，具有结构紧凑、占用空间小、扫描图像和分幅图像时间关联精度高的优点，在激光惯性约束聚变物理实验研究中具有广阔应用前景。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 同时 扫描 测量 系统 | ||
【主权项】：
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