[发明专利]光器件偏振相关衰减的测量方法有效
| 申请号： | 202010788692.6 | 申请日： | 2020-08-07 |
| 公开（公告）号： | CN112146849B | 公开（公告）日： | 2022-02-11 |
| 发明（设计）人： | 洪亮;张笃峰 | 申请（专利权）人： | 上海中科创欣通讯设备有限公司;上海中科股份有限公司;上海中科光纤通讯器件有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 上海天协和诚知识产权代理事务所 31216 | 代理人： | 沈国良 |
| 地址： | 201612 上海市松江*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光器件偏振相关衰减的测量方法，本方法将检偏器设置于偏振控制器输出端与光功率计之间，依次转动偏振控制器的三个波片，直到光功率计接收到最大功率，此时确定偏振控制器输出t1态，偏振控制器方向序列是A(α,β,γ)；移除检偏器，将待测光器件设置于偏振控制器输出端与光功率计之间，记录t1态对应的光功率I1；通过转动波片，依次将偏振控制器方向序列转换为B、C、D，并记录对应的光功率，四个光功率值中的最大值与最小值之差，即待测光器件的偏振相关衰减值。本方法克服传统四态法偏振相关衰减测量的缺陷，使输入的四个偏振态在邦加球面上角分离最大化，从而提高偏振相关衰减测量的精度，准确表征无源光器件的特性。 | ||
| 搜索关键词： | 器件 偏振 相关 衰减 测量方法 | ||
【主权项】：
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