[发明专利]用于表面检查的成像系统在审
| 申请号： | 202010788623.5 | 申请日： | 2020-08-07 |
| 公开（公告）号： | CN112345549A | 公开（公告）日： | 2021-02-09 |
| 发明（设计）人： | S·金;Y·程 | 申请（专利权）人： | 金宝电子印第安纳公司 |
| 主分类号： | G01N21/95 | 分类号： | G01N21/95;G01M11/00;G01B11/30;G02B27/10;G02B27/28;G02B27/30 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 周学斌;申屠伟进 |
| 地址： | 美国印*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种成像系统和方法评估反射式显示器中的不均匀性或不规则性，该反射式显示器诸如是在智能电话、平板设备等等中发现的类型的组装的显示模块。该系统包括被偏振和准直的非相干光，诸如发光二极管（LED）。要评估的表面垂直于准直光，使得光直接撞击在表面上。光的偏振在反射之前和之后被更改，并且来自受评估的表面的反射光由传感器接收。表面的不均匀性或不规则性将作为对比度变化出现在感测图像中。因为来自受评估的表面的反射是180度反射，所以感测图像可以跨要评估的整个表面清晰聚焦。可选地，为了效率和紧凑度，该系统可以利用没有收集透镜的单个准直透镜。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 表面 检查 成像 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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