[发明专利]一种在高低温环境下检测元件参数的装置及其使用方法在审
| 申请号： | 202010770717.X | 申请日： | 2020-08-04 |
| 公开（公告）号： | CN111896830A | 公开（公告）日： | 2020-11-06 |
| 发明（设计）人： | 汪金文;王锦;汪明炉 | 申请（专利权）人： | 锦文测控科技（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 苏州国卓知识产权代理有限公司 32331 | 代理人： | 刘颖棋 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开的属于不同温度下元件参数检测技术领域，具体为一种在高低温环境下检测元件参数的装置及其使用方法，包括温控探针台本体、检测系统、数据采集系统、循环冷却系统、供气系统/真空系统、液氮罐和温度控制系统；该在高低温环境下检测元件参数的装置的使用方法具体如下：打开盖板，将被测元件放置在载样台上表面，调整探针组件，使探针组件压在被测元件上表面，调整好温度传感器的位置并压紧，安装盖板。载样台能够对被测元件升温和降温，为被测元件提供各一个变化的温度场，提升温控探针台本体的检测效率，温控探针台本体可以与多种测试仪器连用，满足材料测试的不同测试条件，具有节能、多功能、微型化、快速升降温等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 低温 环境 检测 元件 参数 装置 及其 使用方法 | ||
【主权项】：
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