[发明专利]芯片走线延时内建检测电路和检测方法有效
| 申请号： | 202010739340.1 | 申请日： | 2020-07-28 |
| 公开（公告）号： | CN111983423B | 公开（公告）日： | 2023-08-29 |
| 发明（设计）人： | 湛伟;马淑彬;张俐;夏明刚;丛伟林 | 申请（专利权）人： | 成都华微电子科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 成都惠迪专利事务所(普通合伙) 51215 | 代理人： | 刘勋 |
| 地址： | 610000 四川省成都市中国（四川）自由贸易试验区成*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 芯片走线延时内建检测电路和检测方法，涉及集成电路技术。本发明的电脑包括下述部分：采样时钟电路，其输出端接与门的第一输入端；脉冲发生电路，其输出端接与门的第二输入端，其脉冲宽度为W；计数器，其输入端接与门的输出端；所述采样时钟电路的时钟周期控制部分包括走线时延部分和固有时延部分，采样时钟电路的时钟周期为T，走线时延部分的时延为X，固有时延部分的时延为T0，满足T＝T0+X。采用本发明技术的芯片可以降低对芯片外部仪表的依赖程度。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 延时 检测 电路 方法 | ||
【主权项】：
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