[发明专利]平面参数设置的方法、装置、电子装置和存储介质在审
| 申请号： | 202010733229.1 | 申请日： | 2020-07-27 |
| 公开（公告）号： | CN111967342A | 公开（公告）日： | 2020-11-20 |
| 发明（设计）人： | 张高明 | 申请（专利权）人： | 杭州易现先进科技有限公司 |
| 主分类号： | G06K9/00 | 分类号： | G06K9/00;G06K9/46 |
| 代理公司： | 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 | 代理人： | 陈涵 |
| 地址： | 311200 浙江省杭州*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种平面参数设置的方法、装置、电子装置和存储介质，其中，该平面参数设置的方法包括：获取检测场景中的角点，计算该角点的角点参数，根据该角点参数与预设参数阈值的对比结果，判断该检测场景中的三维点云的等级，根据该三维点云的等级，设置该检测场景的平面参数。通过本申请，解决了平面提取时的平面参数固定，导致在平面提取的场景发生变化的情况下，平面提取的误差增大的问题，实现了根据实际场景中三维点云的数目特点和精度特点灵活调整平面参数，提高了平面提取的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 平面 参数设置 方法 装置 电子 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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