[发明专利]一种基于激光超声B扫查的定位缺陷方法在审
| 申请号： | 202010718052.8 | 申请日： | 2020-07-23 |
| 公开（公告）号： | CN112067697A | 公开（公告）日： | 2020-12-11 |
| 发明（设计）人： | 赵纪元;赵赢;王宇 | 申请（专利权）人： | 西安交通大学 |
| 主分类号： | G01N29/06 | 分类号： | G01N29/06;G01N29/44 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 李红霖 |
| 地址： | 710049 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 一种基于激光超声B扫查的定位缺陷方法，在金属材料表面进行B扫查，获取B扫信号；对B扫信号进行预处理后分解为不同的频带，并提取纵波缺陷回波的波峰时刻，获得每个扫查点纵波的传播路程；以激励激光点与接收激光点为椭圆两焦点，以纵波传播路程为椭圆长轴，绘制n个椭圆；求解相邻椭圆交点，并将交点按顺序相连，得到缺陷的轮廓及缺陷位置坐标。本发明以具有内部缺陷的金属材料为目标验证对象，借助激光超声检测平台，通过B扫查的方式利用纵波检测其某一纵切面内的内部缺陷，辅以信号降噪及特征提取等手段，实现对B扫信号的重构，从检出缺陷的形状、大小及位置等信息，达到缺陷的可视化定量识别的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 激光 超声 定位 缺陷 方法 | ||
【主权项】：
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