[发明专利]一种基于激光超声B扫查的定位缺陷方法

权利要求书

1.一种基于激光超声B扫查的定位缺陷方法，其特征在于，包括以下步骤：

1)在金属材料表面进行B扫查，获取B扫信号；

2)对B扫信号进行预处理，得到预处理后的信号；

3)将预处理后的信号分解为不同的频带，并提取纵波缺陷回波的波峰时刻；

4)根据缺陷回波的波峰时刻获得每个扫查点纵波的传播路程；

5)以激励激光点与接收激光点为椭圆两焦点，以每个扫查点纵波的传播路程为椭圆长轴，绘制n个椭圆；

6)求解相邻椭圆交点，得到交点Q_i(x_Qi,y_Qi)，i＝1,2,…,n，按i从小到大的顺序将交点Q_i(x_Qi,y_Qi)相连，得到缺陷的轮廓及缺陷位置坐标。

2.根据权利要求1所述的一种基于激光超声B扫查的定位缺陷方法，其特征在于，步骤1)中，采用激励激光与接收激光等间距同时移动的方式在金属材料表面进行B扫查，获取B扫信号。

3.根据权利要求1所述的一种基于激光超声B扫查的定位缺陷方法，其特征在于，步骤2)中，对B扫信号进行时域平均、带通滤波及去除延迟预处理，得到预处理后的信号。

4.根据权利要求1所述的一种基于激光超声B扫查的定位缺陷方法，其特征在于，步骤4)中，将纵波缺陷回波的波峰时刻乘以金属材料中纵波波速，获得每个扫查点纵波的传播路程。

5.根据权利要求1所述的一种基于激光超声B扫查的定位缺陷方法，其特征在于，步骤5)中，椭圆的表达式如下：

式中，f为激光收发距离，s为扫查步长，i为扫查点数量，a_i为半长轴，b_i为半短轴。