[发明专利]光学组件、用于检测光学组件对位的方法以及电子设备在审
| 申请号： | 202010717604.3 | 申请日： | 2020-07-23 |
| 公开（公告）号： | CN111830656A | 公开（公告）日： | 2020-10-27 |
| 发明（设计）人： | 冯坤亮;鞠晓山;丁细超;李宗政 | 申请（专利权）人： | 欧菲微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G02B7/00 | 分类号： | G02B7/00;G01B11/00 |
| 代理公司： | 北京景闻知识产权代理有限公司 11742 | 代理人： | 么立双 |
| 地址： | 330096 江西省南昌市高*** | 国省代码： | 江西;36 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光学组件、用于检测光学组件对位的方法以及电子设备，光学组件包括：第一光学元件以及第二光学元件，第一光学元件具有第一对位结构，第一对位结构具有凹凸纹路；第二光学元件具有第二对位结构，第二光学元件与第一光学元件相对，且第二对位结构与第一对位结构相对。根据本发明的光学组件，可通过激光照射第一对位结构以及第二对位结构的区域，以呈现出不同的图形。第一对位结构与第二对位结构的相对位置不同，呈现出图形不同，进而可以通过呈现的图形来检测第一光学元件与第二光学元件是否对准以及对准的程度，简单且便捷。同时，可便于根据呈现的图形来调整第一光学元件和第二光学元件的相对位置。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 组件 用于 检测 对位 方法 以及 电子设备 | ||
【主权项】：
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