[发明专利]光学组件、用于检测光学组件对位的方法以及电子设备在审
| 申请号： | 202010717604.3 | 申请日： | 2020-07-23 |
| 公开（公告）号： | CN111830656A | 公开（公告）日： | 2020-10-27 |
| 发明（设计）人： | 冯坤亮;鞠晓山;丁细超;李宗政 | 申请（专利权）人： | 欧菲微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G02B7/00 | 分类号： | G02B7/00;G01B11/00 |
| 代理公司： | 北京景闻知识产权代理有限公司 11742 | 代理人： | 么立双 |
| 地址： | 330096 江西省南昌市高*** | 国省代码： | 江西;36 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 光学 组件 用于 检测 对位 方法 以及 电子设备 | ||
1.一种光学组件，其特征在于，包括：
第一光学元件，所述第一光学元件具有第一对位结构，所述第一对位结构具有凹凸纹路；
第二光学元件，所述第二光学元件具有第二对位结构，所述第二光学元件与所述第一光学元件相对，且所述第二对位结构与所述第一对位结构相对。
2.根据权利要求1所述的光学组件，其特征在于，所述第一对位结构包括：
位于中心的圆柱凸起，
多个圆环形凸起，从所述圆柱凸起的径向内侧到径向外侧的方向上，多个所述圆环形凸起依次外套于所述圆柱凸起，且所述圆柱凸起与多个圆环形凸起同轴设置。
3.根据权利要求2所述的光学组件，其特征在于，激光适于穿过所述第一对位结构，所述激光的光波长为w，所述第一对位结构处的折射率为n1，空气折射率为n0，则，h＝w/[2*(n1-n0)]，
所述圆柱凸起与所述圆环形凸起的凸起高度均为H，H的取值范围为0.5h-1.5h。
4.根据权利要求2所述的光学组件，其特征在于，任意相邻的两个所述圆环形凸起之间的距离相等；和/或
所述多个圆环形凸起的外径与内径的差值均相等。
5.根据权利要求4所述的光学组件，其特征在于，任意相邻的两个所述圆环形凸起之间距离为D1，D1的取值范围为0.2um-10um。
6.根据权利要求5所述的光学组件，其特征在于，所述第一光学元件和所述第二光学元件之间的垂直距离为D2，D2的取值范围为0＜D2≤100D1。
7.根据权利要求1所述的光学组件，其特征在于，所述第一光学元件和所述第二光学元件中的至少一个为WLO光学元件。
8.根据权利要求1所述的光学组件，其特征在于，所述第一对位结构与所述第二对位结构相同。
9.一种用于检测光学组件对位的方法，其特征在于，所述光学组件为如权利要求1-8任一项所述的光学组件，所述用于检测光学组件对位的方法适于检测相对的所述第一光学元件与所述第二光学元件是否对准，
所述方法包括：
激光适于沿垂直于所述第一光学元件的方向照射于所述第一光学元件，激光依次穿过所述第一光学元件的所述第一对位结构、第二光学元件的所述第二对位结构，
当所述第一对位结构与所述第二对位结构正对时，产生照射图形；
当所述第一对位结构与所述第二对位结构偏离时，产生衍射图形。
10.一种电子设备，包括如权利要求1-8任一项所述的光学组件。
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